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光耦參數(shù)測(cè)試儀 型號(hào)：JFY3092B
測(cè)試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測(cè)試條件 |
0-1000V | 0.1V | <1%+2RD | 0-2mA |
測(cè)試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測(cè)試條件 |
0-10V | 1mV | <1%+2RD | 0-400MA |
測(cè)試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測(cè)試條件 |
0-2000uA | 1nA | <5% +5RD | 0-1000V（+/-1%） |
測(cè)試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測(cè)試條件 |
0-2000uA | 10nA | <5% +5RD | VR=0-10V（+/-1%） |
測(cè)試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測(cè)試條件 |
0-9999 | 1% | 1% +5RD | BVCE：0-10V IF:0-400MA （+/-1%） |
測(cè)試范圍 | 分辨率 | 精度 | 測(cè)試條件 |
0-10.000V | 1mV | 1% +5RD | IC：0-400mA IF:0-400mA （+/-1%） |
